Title:
Ellipsometric studies of SiO2 films on Si substrates
Creator:
Kulik, Mirosław (fizyka). ; Żuk, Jerzy (fizyka).
Subject:
Description:
Tytuł nagłówkowy. ; We wzorze ditlenku krzemu cyfra 2 w indeksie dolnym. ; Bibliografia na stronie 77. ; Streszczenie w języku polskim, rosyjskim. ; artykul w: Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska. Sectio AAA, Physica Vol. 39, 8 (1984), strony 71-77 ; tytul rownolegly: Badania elipsometryczne warstw SiO2 na podkładkach Si ; tytul rownolegly: Èllipsometričeskie issledovaniâ plenok SiO2 na podložkah Si
Publisher:
Place of publication:
Contributor:
Date:
Type:
Format:
Source:
Zasoby Biblioteki Głównej UMCS
Language:
Relation:
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska. Sectio AAA, Physica Vol. 39, 8 (1984), strony 71-77
Rights:
Source of sponsorship :
Dofinansowano z programu "Społeczna odpowiedzialność nauki" Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego