Tytuł:

Ellipsometric studies of SiO2 films on Si substrates

Autor:

Kulik, Mirosław (fizyka). ; Żuk, Jerzy (fizyka).

Temat i słowa kluczowe:

fizyka

Opis:

Tytuł nagłówkowy. ; We wzorze ditlenku krzemu cyfra 2 w indeksie dolnym. ; Bibliografia na stronie 77. ; Streszczenie w języku polskim, rosyjskim. ; artykul w: Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska. Sectio AAA, Physica Vol. 39, 8 (1984), strony 71-77 ; tytul rownolegly: Badania elipsometryczne warstw SiO2 na podkładkach Si ; tytul rownolegly: Èllipsometričeskie issledovaniâ plenok SiO2 na podložkah Si

Wydawca:

UMCS

Miejsce wydania:

Lublin

Współtwórca:

Żuk, Jerzy (fizyka).

Data wydania:

19984

Typ zasobu:

artykuł

Format:

application/pdf

Źródło:

Zasoby Biblioteki Głównej UMCS

Język:

pol

Powiązania:

Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska. Sectio AAA, Physica Vol. 39, 8 (1984), strony 71-77

Prawa:

domena publiczna

Źródło finansowania :

Dofinansowano z programu "Społeczna odpowiedzialność nauki" Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego