Tytuł:
Ellipsometric studies of SiO2 films on Si substrates
Autor:
Kulik, Mirosław (fizyka). ; Żuk, Jerzy (fizyka).
Temat i słowa kluczowe:
Opis:
Tytuł nagłówkowy. ; We wzorze ditlenku krzemu cyfra 2 w indeksie dolnym. ; Bibliografia na stronie 77. ; Streszczenie w języku polskim, rosyjskim. ; artykul w: Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska. Sectio AAA, Physica Vol. 39, 8 (1984), strony 71-77 ; tytul rownolegly: Badania elipsometryczne warstw SiO2 na podkładkach Si ; tytul rownolegly: Èllipsometričeskie issledovaniâ plenok SiO2 na podložkah Si
Wydawca:
Miejsce wydania:
Współtwórca:
Data wydania:
Typ zasobu:
Format:
Źródło:
Zasoby Biblioteki Głównej UMCS
Język:
Powiązania:
Annales Universitatis Mariae Curie-Skłodowska. Sectio AAA, Physica Vol. 39, 8 (1984), strony 71-77
Prawa:
Źródło finansowania :
Dofinansowano z programu "Społeczna odpowiedzialność nauki" Ministra Nauki i Szkolnictwa Wyższego